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| 相控陣技術 |
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| 更新時間：2017-4-18 15:19:16 |
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| 相控陣（PA）技術因其靈活性、能明顯提高生產效率，多年來已被多種NDE應用采納。PA系統不用典型的波幅和時間信號顯示，而用S掃（扇形掃）或E掃（電子掃）圖像顯示超聲數據，檢測人員可立即看到整個被檢區域，數據評定較簡易。這些圖像是通過陣列探頭各陣元的時間延遲獲得的。更高級的涉及基本信號后處理的操作模式，越來越多的用于NDT。遲后的合成聚集信號法，稱為全聚集法（TFM，Total Focusing Method)，是這種處理的最自然方式之一。 |
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